臺式電鏡SEM，即掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope)，是利用電子束掃描樣品表面，通過收集二次電子、背散射電子等信號來獲取樣品表面形貌、組成和結構信息的顯微分析儀器，具有高分辨率、大景深、立體感強等特點，廣泛應用于材料科學、生物學、地質學、冶金學等領域。
 

　　基本工作原理是：電子槍發射出高速電子束，經過電磁透鏡系統聚焦成直徑為納米級別的細束；電子束在掃描線圈的作用下按照一定規律掃描樣品表面，與樣品相互作用產生二次電子、背散射電子等信號；這些信號被探測器收集并轉換成電信號，經過放大、處理后形成圖像。
 

　　臺式電鏡SEM的主要作用有以下幾點：
 

　　1.表面形貌觀察：可以清晰地觀察到樣品表面的微觀形貌，如顆粒形狀、大小、分布等。通過調整放大倍數，可以觀察到從納米到毫米級別的形貌特征。這對于研究材料的微觀結構、性能以及制備工藝具有重要意義。
 

　　2.成分分析：通常配備有能譜儀(Energy Dispersive Spectrometer，EDS)等附件，可以在觀察形貌的同時對樣品進行元素分析。通過測量樣品發出的X射線能量，可以確定樣品中的元素種類及其含量。這對于研究材料的化學成分、相組成以及元素分布具有重要意義。
 

　　3.斷面觀察：可以對樣品的斷面進行觀察，了解材料的層狀結構、晶粒尺寸、缺陷等信息。這對于研究材料的斷裂機制、界面特性以及生長過程具有重要意義。
 

　　4.表面粗糙度測量：可以通過對樣品表面的高度信息進行測量，得到表面粗糙度的定量數據。這對于評價材料的摩擦性能、粘附性能以及涂層質量具有重要意義。
 

　　5.三維重構：通過對圖像進行處理，可以重建出樣品的三維形貌，進一步了解材料的微觀結構。這對于研究復雜體系的微觀結構、動態過程以及功能特性具有重要意義。
 

　　6、納米尺度研究：具有較高的分辨率，可以實現納米尺度的觀察。這對于研究納米材料、納米器件以及納米技術的發展具有重要意義。